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芯片怕“水“!英國SHAW SADP露點(diǎn)儀守護(hù)半導(dǎo)體超純氣體干燥度

更新時間:2026-05-14      點(diǎn)擊次數(shù):222

在半導(dǎo)體與電子制造領(lǐng)域,超高純氣體(如氮?dú)狻鍤獾龋┦切酒圃熘胁豢蒱uo缺的工藝介質(zhì)。從晶圓清洗、薄膜沉積到光刻刻蝕,每一道工序都對氣體中的水分含量有著近乎苛刻的要求——哪怕是ppm級的微量水分,也可能導(dǎo)致芯片氧化、薄膜缺陷甚至整批晶圓報(bào)廢。因此,在氣體供給管路的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)進(jìn)行露點(diǎn)快速抽檢,是保障良品率的重要手段。英國肖氏(SHAW)Model SADP-D便攜式露點(diǎn)儀,憑借其快速響應(yīng)、精準(zhǔn)測量和本質(zhì)安全等特性,成為半導(dǎo)體現(xiàn)場氣體干燥度管控的得力工具。

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微量水分也能捕捉:精度滿足超純氣體檢測需求

半導(dǎo)體工藝用氣的露點(diǎn)通常要求控制在極低水平。SADP-D提供銀(S)傳感器,測量范圍覆蓋-100°C至-20°C露點(diǎn),對應(yīng)0至1000 ppm(v)水汽含量,分辨率達(dá)0.1 ppm(v)。其精度為±3°C至±4°C,重復(fù)性優(yōu)于±0.5°C,并隨附國家物理實(shí)驗(yàn)室(NPL)可追溯的校準(zhǔn)證書,數(shù)據(jù)可靠、可追溯,能夠滿足半導(dǎo)體行業(yè)對微量水分檢測的嚴(yán)格要求。

干燥劑頭技術(shù):即測即用,不耽誤產(chǎn)線節(jié)拍

半導(dǎo)體工廠的產(chǎn)線停機(jī)成本ji高,檢測儀表必須快速出數(shù)。SADP-D采用獨(dú)特的干燥劑干燥室設(shè)計(jì),傳感器在兩次測試之間始終與大氣隔絕,保持干燥狀態(tài)。接入氣體管路取樣口后,干燥頭先對傳感器周圍進(jìn)行凈化除濕,隨后氣體接觸傳感器即可讀數(shù)。預(yù)熱時間僅需5秒,干燥至潮濕的反應(yīng)時間小于20秒,操作人員可以在短短幾秒內(nèi)完成一次露點(diǎn)抽檢,不影響產(chǎn)線正常運(yùn)轉(zhuǎn)。

本質(zhì)安全認(rèn)證:潔凈車間與危險(xiǎn)區(qū)域均可使用

半導(dǎo)體工廠中常使用易燃易爆的特種氣體,對檢測設(shè)備的安全性有較高要求。SADP-D通過ATEX II 1 G Ex ia IIC T6 Ga及IECEx Ex ia IIC T6 Ga本質(zhì)安全認(rèn)證,無需附加配件即可在危險(xiǎn)區(qū)域直接使用,防護(hù)等級達(dá)IP66/NEMA 4X。這意味著無論是在普通潔凈車間還是在特種氣體區(qū)域,SADP-D都能安全可靠地工作。

自動校準(zhǔn)+超長續(xù)航:降低運(yùn)維負(fù)擔(dān)

SADP-D內(nèi)置自動校準(zhǔn)功能,現(xiàn)場只需將傳感器暴露在比測量范圍更潮濕的大氣中,通過正面電位器即可完成校準(zhǔn),無需送回實(shí)驗(yàn)室或請專業(yè)人員到場。6節(jié)C型電池支持超過150小時連續(xù)運(yùn)行,大幅減少了頻繁更換電池和送檢校準(zhǔn)的運(yùn)維成本。

一臺SADP-D,一根兩米PTFE取樣軟管,一個重型皮革便攜箱——英國肖氏用數(shù)十年的露點(diǎn)測量經(jīng)驗(yàn),為半導(dǎo)體與電子制造行業(yè)的超純氣體干燥度管理,提供了一種簡單、可靠、可追溯的現(xiàn)場解決方案


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